JIS A4710-1989 门窗扇的绝热性能试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-04 03:24:40   浏览:8749   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:
【原文标准名称】:门窗扇的绝热性能试验方法
【标准号】:JISA4710-1989
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1989-12-01
【实施或试行日期】:1989-12-01
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:热试验;门窗框;开孔(建筑);窗;门;热绝缘
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q70
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:


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【英文标准名称】:Plastics-Recycledplastics-CharacterisationofPolyethylene(PE)recyclates.
【原文标准名称】:塑料.再生塑料.聚乙烯(PE)再生塑料回收物的特征
【标准号】:NFT50-803-2008
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2008-02-01
【实施或试行日期】:2008-02-16
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:松散材料密度;特性记述;收费;共聚物;交付;测量规程;评估;杂质;仪器;材料;塑料;塑料加工物;聚乙烯;聚合物;特性;质量保证;质量控制;收回;回收;回收物;再循环;测试;热塑性聚合物
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:G31
【国际标准分类号】:13_030_50;83_080_20
【页数】:15P;A4
【正文语种】:其他


【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part38:Softerrortestmethodforsemiconductordeviceswithmemory
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第38部分:带存储器的半导体器件用软错误试验法
【标准号】:IEC60749-38-2008
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2008-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加速的;α辐射线;气候试验;元件;损伤;缺陷;定义;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;集成电路;干扰;测量;机械试验;电力电子学;半导体器件;半导体;测试;试验条件
【英文主题词】:Accelerated;Alpharadiation;Climatictests;Components;Damage;Defects;Definitions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;Interferences;Measurement;Mechanicaltesting;Powerelectronics;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Testingconditions
【摘要】:ThispartofIEC60749establishesaprocedureformeasuringthesofterrorsusceptibilityofsemiconductordeviceswithmemorywhensubjectedtoenergeticparticlessuchasalpharadiation.Twotestsaredescribed;anacceleratedtestusinganalpharadiationsourceandan(unaccelerated)real-timesystemtestwhereanyerrorsaregeneratedunderconditionsofnaturallyoccurringradiationwhichcanbealphaorotherradiationsuchasneutron.Tocompletelycharacterizethesofterrorcapabilityofanintegratedcircuitwithmemory,thedevicemustbetestedforbroadhighenergyspectrumandthermalneutronsusingadditionaltestmethods.Thistestmethodmaybeappliedtoanytypeofintegratedcircuitwithmemorydevice.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语